NewView™ 7000
Produktlinie

Hohe Anforderungen in der Fertigung immer kleinerer Bauteile stellen auch für die moderne Messtechnik eine große Herausforderung dar. Das scannende Weißlichtinterferenz Mikroskop NewView™ 7000 bietet hier einer der besten und flexibelsten Lösungen für präzises Messen mit extrem hoher Wiederholgenauigkeit. Das NewView™ ist seit über 15 Jahren in vielen Industriezweigen weltweit im Einsatz und anerkannt. Mit der neuesten Generation, die NewView™ 7000er Reihe, sind weitere Verbesserungen eingeflossen die in der Summe aller Eigenschaften das NewView™ 7000 zum führenden Messsystem in seiner Klasse macht.

Sei es die hohe vertikale Auflösung von 0.1 nm unabhängig von der lateralen Auflösung oder die große Variabilität in der Messfeldgröße, stets bietet das NewView™ die Lösung für ihr Messproblem. In der optischen dreidimensionalen Messtechnik ist das NewView™ eines der wenigen Messsysteme welches in x, y und z ohne aufwendiges kalibrieren rückführbar und zuverlässig misst.

Dabei bietet schon das NewView™ 7200 eine Leistungsfähigkeit die seines gleichen sucht und somit hervorragend für Institute, Forschung und Entwicklung geeignet ist. Wer noch kürzere Messzeiten und einen motorisierten Zoomrevolver für die Automatisierung benötigt, für den steht das NewView™ 7300 zur Verfügung. Allen NewView™ 7000er Modellen gemeinsam ist die äußerst flexible Plattform mit der umfangreichsten Anzahl an Objektiven.

Prospekte, Spezifikationen, und Zubehör

Zum Herunterladen das NewView™ 7000 Prospkete, Spezifikationen, oder Zubehörkataloge, klicken Sie auf den entsprechenden Link. Die Dokumente sind im pdf-Format.

PDF	NewView™ Produktlinie Prospekt
PDF	NewView™ 7000 Produktlinie Prospekt
PDF	NewView™ 7200 Spezifikationen
PDF	NewView™ 7300 Spezifikationen
PDF	NewView™ Produktlinie - MEMS Capability
PDF	NewView™ Zubehör
PDF	Surface Texture Parameters (illustrated glossary of terms)
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